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 测高仪 >> TESA-HITE400/700一维测高仪

 

TESA -HITE 400/700一维测高仪

 

·更大的测量范围

·电子装置具有IP65等级,以防止液体和灰尘的侵入

·内置气浮,已固定的面板

·采用TESA的专利技术,在测量直径时自动寻找顶点

·可进行平行度和垂直度的测量

·TESA专利的光电测量系统

·与MICRO-HITE兼容的附件包括测杆及夹持块

·每台测高仪带有SCS校正书



技术参数:(L单位为m

型号

TESA-HITE 400

TESA-HITE 700

行程

415

715

加接长臂A

0~570

0~870

加接长臂B

0~625

0~925

加接长臂C

0~795

0~1095

分辨率

0.0001/0.001/0.01mm

0.0001/0.001/0.01mm

不确定度

2.5+4Lum8 um

2.5+4Lum8 um

重复性

平面内

≤2um

≤2um

孔内

≤6um

≤3um

最大垂直度误差

10um

15um

测力

1.6±0.25N

1.6±0.25N

电源(蓄电池)

6V可充电电池

6V可充电电池

端口

RS232

RS232

重量

27kg

32kg

工作温度

10~40

10~40

录入时间:2008-9-23 【打印此页】 【返回